Secondary Ion Mass Spectrometry. S. IV : Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 / A. Benninghoven [и др.]

Альтернативный автор-лицо: Benninghoven, A.;Okano, J.;Shimizu, R.;Werner, H. W.Коллективный автор (вторичный): Secondary Ion Mass Spectrometry. S. IV, International Conference, 4, 1983Язык: английский.Страна: .Публикация: : Springer-Verlag, 1984Описание: 504 p. : il.Серия: SPringer Series in Chemical Physics, Vol. 36Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: Index: p. 501-503.Наименование темы как предмет: Масс-спектрометрия Тематика: физика | химия | распыление | ионизация | квантификация | атомы | ионы | вторичные ионы | масс-спектрометры | измерительные приборы | применение | органические соединения | металлические материалы | неорганические материалы | полупроводники | конференции | Япония | английский язык
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип издания Текущая библиотека Шифр хранения Доступность Штрихкод | RFID
Books НТБ ТПУ Научный фонд 86-3991 В наличии 13821000749395
Всего резервирований: 0

Index: p. 501-503

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.