Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials / Y. Waseda

Основной Автор-лицо: Waseda, Y., YoshioЯзык: английский.Страна: .Публикация: : Springer-Verlag, 1984Описание: 184 с. : il.Серия: Lecture Notes in Physics, Vol. 204Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: References: p. 170-177; Subject Index: p. 178-184.Наименование темы как предмет: Рассеяние пучков ионов Тематика: неупорядоченные материалы | структурные характеристики | свойства | рентгеновские лучи | аномальное рассеяние | парциальные факторы | структурные факторы | структурный анализ | аномальная дисперсия | резонансное рассеяние | применение | использование | английский язык
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип издания Текущая библиотека Шифр хранения Доступность Штрихкод | RFID
Books НТБ ТПУ Научный фонд 85-9602 В наличии 13821000731017
Всего резервирований: 0

References: p. 170-177

Subject Index: p. 178-184

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.