Flaw-detection characteristics of the compact MIB-4 betatron / D. A. Boiko, A. A. Filimonov, V. L. Chakhlov

Уровень набора: Soviet Journal of Nondestructive Testing = 1965-Основной Автор-лицо: Boiko, D. A.Альтернативный автор-лицо: Filimonov, A. A., specialist in the field of non-destructive testing, Senior researcher of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences, 1938-, Anatoly Alekseevich;Chakhlov, V. L., physicist, Honored worker of science and technology of the Russian Federation, Honored Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor ofTechnical Sciences (DSc), 1934-2011, Vladimir Lukianovich, 070Язык: английский.Страна: .Резюме или реферат: Information which refines and complements the method of inspecting parts by means of the MIB-4 device is provided. The results obtained in testing this equipment abroad are given..Аудитория: .Тематика: труды учёных ТПУ
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Translated from Defektoskopiya; 23: No. 1, 27-31 (Jan 1986)

Information which refines and complements the method of inspecting parts by means of the MIB-4 device is provided. The results obtained in testing this equipment abroad are given.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.