Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Часть 2 : электронный курс / Н. Н. Никитенков, В. С. Сыпченко ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Инженерная школа ядерных технологий, Отделение экспериментальной физики
Язык: русский.Страна: Россия.Публикация: Томск : TPU Moodle, 2018Резюме или реферат: Цель 2-й части: изучение теоретических основ электронно- и ионно- спектроскопических методов анализа, а также методов измерений механических свойств поверхности. Особое внимание уделяется взаимосвязи механических свойств поверхности с её химическим и фазовым составом..Аудитория: .Наименование темы как предмет: Поверхности твердых тел -- Исследование Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | электронные учебные пособия | учебные пособия | Moodle | e-learning | теоретические основы | спектроскопия | вакуум | поверхность | тонкие пленки | изотопный состав | химический состав | структурный состав Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайнНет реальных экземпляров для этой записи
Заглавие с экрана
Цель 2-й части: изучение теоретических основ электронно- и ионно- спектроскопических методов анализа, а также методов измерений механических свойств поверхности. Особое внимание уделяется взаимосвязи механических свойств поверхности с её химическим и фазовым составом.
Для данного заглавия нет комментариев.
Личный кабинет оставить комментарий.