Trace Analysis of Semiconductor Materials (Запись № 371009)
[ простой вид ]
| 000 -Маркер | |
|---|---|
| Поле контроля фиксированной длины | 04184nam0a2200361 4500 |
| 005 - Идентификатор версии | |
| Поле контроля фиксированной длины | 20231030001430.0 |
| 035 ## - Другие системные номера | |
| Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\retro\28418 |
| 100 ## - Данные общей обработки | |
| Данные общей обработки | 20220826d1964 k y0rusy50 ca |
| 101 0# - Язык ресурса | |
| Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
| 102 ## - Страна публикации или производства | |
| Страна публикации | |
| 105 ## - Поле кодированных данных: текстовые ресурсы, монографические | |
| Кодированные данные о монографическом текстовом документе | a z 001zy |
| 200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
| Основное заглавие | Trace Analysis of Semiconductor Materials |
| Первые сведения об ответственности | edited by J. P. Cali |
| 210 ## - Публикация, производство, распространение и т.д. | |
| Место публикации, производства и/или распространения | |
| Имя издателя, производителя и/или распространителя | Pergamon Press |
| Дата публикации, производства и/или распространения | 1964 |
| 215 ## - Физические характеристики | |
| Сведения об объеме | 282 p. |
| Другие физические характеристики | il. |
| 225 1# - Серия | |
| Основное заглавие серии | International series of monographs on analytical chemistry |
| Обозначение тома | Vol. 11 |
| 320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
| Текст примечания | Subject Index: p. 273-282 |
| 330 ## - Резюме или реферат | |
| Текст примечания | Trace Analysis of Semiconductor Materials - это руководство, посвященное процедурам ультра-трассового анализа. В этой книге обсуждаются шесть различных методов анализа следов. Эти методы являются наиболее распространенными и могут быть применены к различным проблемам по сравнению с другими методами. Каждая из четырех глав в основном включает введение в принципы и общие положения. Затем кратко обсуждается теоретическая основа рассматриваемой техники. Объясняется практическое применение методов и различных приборов. Затем обсуждаются приложения для анализа следов, относящиеся к полупроводниковым материалам. В главе 1 обсуждается радиохимическая практика, анализ полупроводниковых материалов, методы разделения, несколько качественных радиохимических схем, процедуры радиохимической очистки и несколько ранее сообщенных исследований. Глава 2 охватывает эмиссионную спектроскопию, включая ее потенциал для будущих применений. Обсуждения в главе 3 объясняют преимущества каждого из четырех масс-спектрометрических методов, а именно: метод разбавления изотопов, полное термическое испарение, метод вакуумной искры и метод ионной бомбардировки. Глава 4 посвящена абсорбционным, флуоресцентным и полярографическим методам, используемым в общем анализе следов, включая примеры применения полупроводниковых материалов и другие проблемы, возникающие при введении определенных примесей в испытуемый образец. Данная монография будет полезна исследователям в области ультра-трассового анализа, ядерной физики и аналитической химии. |
| 541 1# - Перевод заглавия, сделанный каталогизатором | |
| Заглавие | Анализ следов полупроводниковых материалов |
| Язык заглавия | русский |
| 606 1# - Наименование темы как предмет | |
| Наименование темы | Аналитическая химия |
| Источник данных | stltpush |
| Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\subj\67454 |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | полупроводниковые материалы |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | нейтронно-активационный анализ |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | эмиссионная спектроскопия |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | масс-спектральный анализ |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | абсорбционные методы |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | флуоресцентная спектроскопия |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | полярографические методы |
| 675 ## - Универсальная десятичная классификация (UDC/УДК) | |
| Индекс | 543 |
| Издание | 4 |
| 702 #1 - Имя лица – вторичная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Cali |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | J. P. |
| Расширение инициалов личного имени | J. Paul |
| Код отношения | 340 |
| 801 #1 - Источник записи | |
| Страна | RU |
| Организация | 63413507 |
| Дата составления | 20220826 |
| 801 #2 - Источник записи | |
| Страна | RU |
| Организация | 63413507 |
| Дата составления | 20220826 |
| Правила каталогизации | RCR |
| 090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
| Koha biblioitem number (autogenerated) | 371009 |
| 942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
| Тип документа | Books |
| Состояние изъятия | Состояние повреждения | Состояние потери | Дата поступления | Исходная библиотека | Текущая библиотека | Фонд | Цена действует с | Инвентарный номер | Шифр хранения | Ограничение выдачи | Тип документа | Koha normalized classification for sorting | Total checkouts | Date last seen |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 10.01.2022 | НТБ ТПУ | НТБ ТПУ | Научный фонд | 30.10.2023 | М-16044 | М-16044 | Books | М16044 | 30.10.2023 |