X-ray diffraction method for determination of interplanar spacing and temperature distribution in crystals under an external temperature gradient (Запись № 642850)

Подробно MARC
000 -Маркер
Поле контроля фиксированной длины 02650nlm1a2200373 4500
005 - Идентификатор версии
Поле контроля фиксированной длины 20231030040515.0
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\7827
100 ## - Данные общей обработки
Данные общей обработки 20150820a2015 k y0engy50 ba
101 0# - Язык ресурса
Язык текста, звукозаписи и т.д. английский
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы
Кодированные данные для электронного ресурса drcn ---uucaa
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания
Код вида содержания i
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа
Код средства доступа electronic
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности
Основное заглавие X-ray diffraction method for determination of interplanar spacing and temperature distribution in crystals under an external temperature gradient
Первые сведения об ответственности V. R. Kocharyan [et al.]
203 ## - Вид содержания и средство доступа
Вид содержания
Средство доступа
300 ## - Общие примечания
Текст примечания Title screen
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя
Текст примечания [References: p. 856 (14 tit.)]
330 ## - Резюме или реферат
Текст примечания An X-ray diffraction method is developed for the determination of the distribution of temperature and interplanar spacing in a single-crystal plate. In particular, the temperature and the interplanar spacing differences in two different parts of a quartz single crystal of X-cut are experimentally determined depending on the value of the temperature gradient applied perpendicularly to the reflecting atomic planes (10\bar 11). The temperature distribution along the direction perpendicular to the reflecting atomic planes (10\bar 11) and the interplanar spacing distribution of atomic planes (10\bar 11) are determined as well.
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования
Текст примечания
461 ## - Уровень набора
Заглавие Journal of Applied Crystallography
Дата публикации 2015
463 ## - Уровень физической единицы
Заглавие Vol. 48, P. 3
Обозначение тома [P. 853-856]
Дата публикации 2015
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин электронный ресурс
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин труды учёных ТПУ
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Kocharian
Часть имени, кроме начального элемента ввода V. R.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- assistant of Tomsk Polytechnic University, candidate of physico-mathematical Sciences
Даты 1976-
Расширение инициалов личного имени Vagan Rashidovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\34228
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Gogolev
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. S.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- associate professor of Tomsk Polytechnic University
Даты 1983-
Расширение инициалов личного имени Aleksey Sergeevich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\31537
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Movsisyan
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. E.
Расширение инициалов личного имени Artur Egisheevich
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Beybutyan
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. H.
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Khlopuzyan
Часть имени, кроме начального элемента ввода S. G.
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Aloyan
Часть имени, кроме начального элемента ввода L.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- researcher of Tomsk Polytechnic University, candidate of physico-mathematical Sciences
Даты 1979-
Расширение инициалов личного имени Lusine
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\39848
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Структурное подразделение Физико-технический институт (ФТИ)
-- Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)
-- 46
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\18729
801 #2 - Источник записи
Страна RU
Организация 63413507
Дата составления 20171122
Правила каталогизации RCR
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса http://dx.doi.org/10.1107/S1600576715006913
090 ## - System Control Numbers (Koha)
Koha biblioitem number (autogenerated) 642850
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха)
Тип документа Computer Files

Нет доступных единиц.