Change Spectrum Characteristics Modification of Films Deposited by Magnetron Sputtering with the Assistance of Argon Ions Beam (Запись № 642935)

Подробно MARC
000 -Маркер
Поле контроля фиксированной длины 03492nla2a2200457 4500
005 - Идентификатор версии
Поле контроля фиксированной длины 20231030040520.0
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\7923
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи RU\TPU\network\7298
100 ## - Данные общей обработки
Данные общей обработки 20150825a2015 k y0engy50 ba
101 0# - Язык ресурса
Язык текста, звукозаписи и т.д. английский
102 ## - Страна публикации или производства
Страна публикации
105 ## - Поле кодированных данных: текстовые ресурсы, монографические
Кодированные данные о монографическом текстовом документе y z 100zy
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы
Кодированные данные для электронного ресурса drcn ---uucaa
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания
Код вида содержания i
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа
Код средства доступа electronic
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности
Основное заглавие Change Spectrum Characteristics Modification of Films Deposited by Magnetron Sputtering with the Assistance of Argon Ions Beam
Первые сведения об ответственности S. P. Umnov, O. Kh. Asainov
203 ## - Вид содержания и средство доступа
Вид содержания
Средство доступа
300 ## - Общие примечания
Текст примечания Title screen
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя
Текст примечания [References: 11 tit.]
330 ## - Резюме или реферат
Текст примечания Thin aluminum films were prepared using the method of magnetron sputtering with and without argon ion beam assistance. The influence of argon ion beam on the reflectivity in the UV range and the structure of aluminum films was studied. The structure of the films was studied by transmission electron microscopy (TEM), X-ray diffractometry (XRD) and atomic-force microscope (AFM). The study has shown that the films deposed with the assistance of the argon ion beam have more significant microstresses associated with an increase of crystallites microstructure defects as compared to the films deposed without ion assistance. Comparison of the measured reflectivity of aluminum films deposed without and with the assistance of the ion beam has shown that the films characterized by a higher level of microstructure def ects have increased reflectivity in the UV range. The studies suggest that the defects of thin aluminum films crystal structure influence its optical properties.
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования
Текст примечания
337 ## - Примечание о системных требованиях (электронные ресурсы)
Текст примечания Adobe Reader
461 #1 - Уровень набора
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\2008
Заглавие IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
463 #1 - Уровень физической единицы
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\7891
Заглавие Vol. 81 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials
Сведения, относящиеся к заглавию International Scientific Conference, 3-8 November 2014, Tomsk, Russia
-- [proceedings]
Обозначение тома [012001, 5 p.]
Дата публикации 2015
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин электронный ресурс
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин труды учёных ТПУ
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин спектры
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин пленки
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин магнетронное распыление
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин ионы аргона
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин просвечивающая электронная микроскопия
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин рентгеновская дифрактометрия
700 #1 - Имя лица – первичная ответственность
Начальный элемент ввода Umnov
Часть имени, кроме начального элемента ввода S. P.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Senior researcher of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences
Даты 1957-
Расширение инициалов личного имени Sergey Pavlovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\34215
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Asainov
Часть имени, кроме начального элемента ввода O. Kh.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Head of the laboratory of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences
Даты 1957-
Расширение инициалов личного имени Oleg Khaydarovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\34632
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Структурное подразделение Физико-технический институт (ФТИ)
-- Кафедра технической физики (№ 23) (ТФ)
-- Лаборатория № 16
-- 6468
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\19671
801 #2 - Источник записи
Страна RU
Организация 63413507
Дата составления 20161212
Правила каталогизации RCR
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/81/1/012001
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14685
090 ## - System Control Numbers (Koha)
Koha biblioitem number (autogenerated) 642935
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха)
Тип документа Computer Files

Нет доступных единиц.