Effects on structure and properties of Zr55Al 10Cu30Ni5 metallic glass irradiated by high intensity pulsed ion beam (Запись № 645055)
[ простой вид ]
000 -Маркер | |
---|---|
Поле контроля фиксированной длины | 03138nlm1a2200433 4500 |
005 - Идентификатор версии | |
Поле контроля фиксированной длины | 20231030040639.0 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\10139 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | RU\TPU\network\6407 |
100 ## - Данные общей обработки | |
Данные общей обработки | 20151209a2014 k y0engy50 ba |
101 0# - Язык ресурса | |
Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
102 ## - Страна публикации или производства | |
Страна публикации | |
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
Кодированные данные для электронного ресурса | drcn ---uucaa |
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
Код вида содержания | i |
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
Код средства доступа | electronic |
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
Основное заглавие | Effects on structure and properties of Zr55Al 10Cu30Ni5 metallic glass irradiated by high intensity pulsed ion beam |
Первые сведения об ответственности | X. Liu, X. Mei, J. Qiang [et al.] |
203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
Вид содержания | |
Средство доступа | |
300 ## - Общие примечания | |
Текст примечания | Title screen |
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
Текст примечания | [References: p. 916-917 (22 tit.)] |
330 ## - Резюме или реферат | |
Текст примечания | High intensity pulsed ion beam technology was used for the surface irradiation treatment of metallic glass Zr55Al10Cu 30Ni5 and W metal. The ion beam was mainly composed of Cn+ (70%) and H+ (30%) at an acceleration voltage of 250 kV under different energy densities for different number of pulses. XRD analysis showed that the metallic glass remained amorphous in its main structure after HIPIB irradiation, without apparent presence of crystalline phases. SEM analysis concluded that there was no apparent irradiation damage on the surface of metallic glass at the low irradiation frequency (3 times and 10 times); "petal"-shaped irradiation damage appeared on the surface of metallic glass after multi-irradiation (100 times and 300 times), and the composition of the petal center included Fe and Cr, the composition of an ion diode cathode, in addition to the composition of Zr-based metallic glass. TEM analysis of irradiated metallic glass showed that a small amount of nanocrystalline Zr 2Ni-type phase (face centered cubic) was produced only at 300-time irradiation. Cracks appeared on the surface of W after 100-time and 300-time irradiation; shedding phenomenon even appeared on the surface of W at the energy densities of 1.4 J/cm2 and 2.0 J/cm2. The surface nano-hardness of irradiated metallic glass decreased. |
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования | |
Текст примечания | |
461 ## - Уровень набора | |
Заглавие | Applied Surface Science |
Сведения, относящиеся к заглавию | Scientific Journal |
463 ## - Уровень физической единицы | |
Заглавие | Vol. 313 |
Обозначение тома | [P. 311-317] |
Дата публикации | 2014 |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | электронный ресурс |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | труды учёных ТПУ |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | high intensity pulsed ion beam |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | irradiation damage |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | W metal |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | Zr-based metallic glass |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Liu |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | X. |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Mei |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | X. |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Qiang |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | J. |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Remnev |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | G. E. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences |
Даты | 1948- |
Расширение инициалов личного имени | Gennady Efimovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\31500 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Wang |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | Y. |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |
Структурное подразделение | Институт физики высоких технологий (ИФВТ) |
-- | Лаборатория № 1 |
-- | 6378 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\19035 |
801 #2 - Источник записи | |
Страна | RU |
Организация | 63413507 |
Дата составления | 20221128 |
Правила каталогизации | RCR |
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
Универсальный идентификатор ресурса | http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2014.06.106 |
090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
Koha biblioitem number (autogenerated) | 645055 |
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.