The fast neutron irradiation influence on the AlGaAs IR-LEDs reliability (Запись № 651544)

Подробно MARC
000 -Маркер
Поле контроля фиксированной длины 02812nlm1a2200385 4500
005 - Идентификатор версии
Поле контроля фиксированной длины 20231030041038.0
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\16793
100 ## - Данные общей обработки
Данные общей обработки 20161115a2016 k y0engy50 ba
101 0# - Язык ресурса
Язык текста, звукозаписи и т.д. английский
-- eng
102 ## - Страна публикации или производства
Страна публикации
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы
Кодированные данные для электронного ресурса drcn ---uucaa
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания
Код вида содержания i
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа
Код средства доступа electronic
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности
Основное заглавие The fast neutron irradiation influence on the AlGaAs IR-LEDs reliability
Первые сведения об ответственности A. V. Gradoboev [et al.]
203 ## - Вид содержания и средство доступа
Вид содержания
Средство доступа
300 ## - Общие примечания
Текст примечания Title screen
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя
Текст примечания [References: 16 tit.]
330 ## - Резюме или реферат
Текст примечания This paper represents the results of investigation of preliminary fast neutron irradiation influence on reliability of IR-LEDs manufactured on the basis of AlGaAs heterostructures. It is determined that design margin of LEDs is defined by catastrophic failures that are driven by mechanical destruction of LED packages rather than their lighting technology characteristics. The upper and lower limits of catastrophic failure probability are determined. In addition, the upper limit is shown to be dependent on the melt temperature of ohmic contact used to fix the chip to chip carrier. The preliminary fast neutron irradiation leads to the shift of defined temperature limits while the probability of catastrophic failure grows with neutron fluence that can be explained by lower radiation resistance of ohmic contact.
461 ## - Уровень набора
Заглавие Microelectronics Reliability
463 ## - Уровень физической единицы
Заглавие Vol. 65
Обозначение тома [P. 55-59]
Дата публикации 2016
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин электронный ресурс
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин труды учёных ТПУ
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин светоизлучающие диоды
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин гетероструктуры
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин быстрые нейтроны
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Gradoboev
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. V.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Professor of Yurga technological Institute of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences
Даты 1952-
Расширение инициалов личного имени Aleksandr Vasilyevich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\34242
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Orlova
Часть имени, кроме начального элемента ввода K. N.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Associate Professor of Yurga technological Institute of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences
Даты 1985-
Расширение инициалов личного имени Kseniya Nikolaevna
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\33587
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Asanov
Часть имени, кроме начального элемента ввода I. A.
Расширение инициалов личного имени Ivan Aleksandrovich
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Simonova
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. V.
Расширение инициалов личного имени Anastasiya Vladimirovna
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Структурное подразделение Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ)
-- Кафедра безопасности жизнедеятельности, экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ)
-- 2240
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\18930
801 #2 - Источник записи
Страна RU
Организация 63413507
Дата составления 20161115
Правила каталогизации RCR
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.143
090 ## - System Control Numbers (Koha)
Koha biblioitem number (autogenerated) 651544
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха)
Тип документа Computer Files

Нет доступных единиц.