Ultra-sharp nanofocusing of graded index photonic crystal-based lenses perforated with optimized single defect (Запись № 651713)

Подробно MARC
000 -Маркер
Поле контроля фиксированной длины 02918nlm1a2200409 4500
005 - Идентификатор версии
Поле контроля фиксированной длины 20231030041057.0
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\16975
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи RU\TPU\network\16729
100 ## - Данные общей обработки
Данные общей обработки 20161121a2016 k y0engy50 ba
101 0# - Язык ресурса
Язык текста, звукозаписи и т.д. английский
-- eng
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы
Кодированные данные для электронного ресурса drcn ---uucaa
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания
Код вида содержания i
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа
Код средства доступа electronic
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности
Основное заглавие Ultra-sharp nanofocusing of graded index photonic crystal-based lenses perforated with optimized single defect
Первые сведения об ответственности Y. H. Li [et al.]
203 ## - Вид содержания и средство доступа
Вид содержания
Средство доступа
300 ## - Общие примечания
Текст примечания Title screen
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя
Текст примечания [References: p. 2636 (37 tit.)]
330 ## - Резюме или реферат
Текст примечания The single defect structure of a two-dimensional graded index photonic crystal (PC) is investigated. By introduction of an air hole located at center of the photonic crystal-based lenses, we can obtain an extremely small focusing spot, sited at full-width and half maximum (FWHM) as fine as λ/75, which is positioned at the subsurface and top surface of the PCs respectively. Computational calculations were performed on the basis of finite-different time-domain (FDTD) algorithm for the purpose of verifying the feasibility of our design. To study influence of the defect on nanofocusing property of the PC lenses, we set different length of the air holes at center of the PC lenses. The influence of wavelength and material on the nanofocusing performance of the PC lenses is discussed. New applications in optoelectronic devices, nanometrology, bioimaging, and biosensing from the graded index of PC lenses is possible.
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования
Текст примечания
461 ## - Уровень набора
Заглавие Optical Materials Express
Сведения, относящиеся к заглавию Scientific Journal
463 ## - Уровень физической единицы
Заглавие Vol. 6, iss. 8
Обозначение тома [P. 2828-2636]
Дата публикации 2016
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин электронный ресурс
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин труды учёных ТПУ
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин нанофокусировка
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин фотонные кристаллы
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин линзы
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин перфорированные материалы
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Li
Часть имени, кроме начального элемента ввода Y. H.
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Fu
Часть имени, кроме начального элемента ввода Y. Q.
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Minin
Часть имени, кроме начального элемента ввода O. V.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences
Даты 1960-
Расширение инициалов личного имени Oleg Vladilenovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\44941
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Minin
Часть имени, кроме начального элемента ввода I. V.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Senior researcherof Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences
Даты 1960-
Расширение инициалов личного имени Igor Vladilenovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\37571
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Структурное подразделение Институт неразрушающего контроля (ИНК)
-- Кафедра точного приборостроения (ТПС)
-- 63
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\18717
801 #2 - Источник записи
Страна RU
Организация 63413507
Дата составления 20191030
Правила каталогизации RCR
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса https://doi.org/10.1364/OME.6.002628
090 ## - System Control Numbers (Koha)
Koha biblioitem number (autogenerated) 651713
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха)
Тип документа Computer Files

Нет доступных единиц.