Effect of surface modification by silicon ion beam on microstructure and chemical composition of near-surface layers of titanium nickelide (Запись № 654299)
[ простой вид ]
000 -Маркер | |
---|---|
Поле контроля фиксированной длины | 03319nlm1a2200469 4500 |
005 - Идентификатор версии | |
Поле контроля фиксированной длины | 20231030041255.0 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\19893 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | RU\TPU\network\19667 |
100 ## - Данные общей обработки | |
Данные общей обработки | 20170424a2013 k y0engy50 ba |
101 0# - Язык ресурса | |
Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
102 ## - Страна публикации или производства | |
Страна публикации | |
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
Кодированные данные для электронного ресурса | drcn ---uucaa |
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
Код вида содержания | i |
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
Код средства доступа | electronic |
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
Основное заглавие | Effect of surface modification by silicon ion beam on microstructure and chemical composition of near-surface layers of titanium nickelide |
Первые сведения об ответственности | S. G. Psakhie [et al.] |
203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
Вид содержания | |
Средство доступа | |
300 ## - Общие примечания | |
Текст примечания | Title screen |
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
Текст примечания | [References: p. 462-463 (19 tit.)] |
330 ## - Резюме или реферат | |
Текст примечания | Regularities of changes in chemical composition and microstructure of titanium nickelide upon high-dose ion-beam implantation of silicon into its surface were studied. It was shown that irradiation of a TiNi alloy with silicon ion beams results in formation of a surface oxide layer about six times thicker than that at the surface of the unirradiated alloy. The surface oxide layer of the ion-beam-modified alloy has an oxygen concentration which is ~20% greater than that of the unmodified TiNi surface layer and lacks nickel, whose concentration is near zero to a sample depth of about 20 nm. Investigation of the near-surface region beneath the irradiated surface of TiNi samples by electron backscatter diffraction revealed that, under the action of a silicon ion beam, the near-surface region of individual B2-phase grains rising to the surface is fragmented with formation of a grain-subgrain structure with fragment (grain) sizes decreased down to 5 to 15 µm. It was suggested that grain orientation influences the observed effect. |
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования | |
Текст примечания | |
461 ## - Уровень набора | |
Заглавие | Inorganic Materials: Applied Research |
Дата публикации | 2010- |
463 ## - Уровень физической единицы | |
Заглавие | Vol. 4, iss. 5 |
Обозначение тома | [P. 457-463] |
Дата публикации | 2013 |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | электронный ресурс |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | труды учёных ТПУ |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | титан |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | поверхность |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | кремний |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | модификации |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | дифракция |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | фрагментация |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Psakhie |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | S. G. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | head of laboratory, Advisor to the rector, head of Department, Tomsk Polytechnic University, doctor of physico-mathematical Sciences |
Даты | 1952- |
Расширение инициалов личного имени | Sergey Grigorievich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\33038 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Lotkov |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. I. |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Meisner |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | S. N. |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Meisner |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | L. L. |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Sergeev |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | V. P. |
Дополнения к именам, кроме дат | specialist in the field of materials science |
-- | Professor of Tomsk Polytechnic University, doctor of technical Sciences |
Даты | 1949- |
Расширение инициалов личного имени | Viktor Petrovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\32730 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Sungatulin |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. R. |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |
Структурное подразделение | Институт физики высоких технологий (ИФВТ) |
-- | Кафедра физики высоких технологий в машиностроении (ФВТМ) |
-- | 2087 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\18687 |
801 #2 - Источник записи | |
Страна | RU |
Организация | 63413507 |
Дата составления | 20170424 |
Правила каталогизации | RCR |
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
Универсальный идентификатор ресурса | http://dx.doi.org/10.1134/S2075113313050134 |
090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
Koha biblioitem number (autogenerated) | 654299 |
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.