Refractive index less than two: photonic nanojets yesterday, today and tomorrow [Invited] (Запись № 656493)

Подробно MARC
000 -Маркер
Поле контроля фиксированной длины 02678nlm1a2200373 4500
005 - Идентификатор версии
Поле контроля фиксированной длины 20231030041430.0
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\22934
100 ## - Данные общей обработки
Данные общей обработки 20171116a2017 k y0engy50 ba
101 0# - Язык ресурса
Язык текста, звукозаписи и т.д. английский
-- eng
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы
Кодированные данные для электронного ресурса drcn ---uucaa
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания
Код вида содержания i
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа
Код средства доступа electronic
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности
Основное заглавие Refractive index less than two: photonic nanojets yesterday, today and tomorrow [Invited]
Первые сведения об ответственности B. S. Luk’yanchuk [et al.]
203 ## - Вид содержания и средство доступа
Вид содержания
Средство доступа
300 ## - Общие примечания
Текст примечания Title screen
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя
Текст примечания [References: 180 tit.]
330 ## - Резюме или реферат
Текст примечания Materials with relatively small refractive indices (𝑛<2n<2), such as glass, quartz, polymers, some ceramics, etc., are the basic materials in most optical components (lenses, optical fibres, etc.). In this review, we present some of the phenomena and possible applications arising from the interaction of light with particles with a refractive index less than 2. The vast majority of the physics involved can be described with the help of the exact, analytical solution of Maxwell's equations for spherical particles (so called Mie theory). We also discuss some other particle geometries (spheroidal, cubic, etc.) and different particle configurations (isolated or interacting) and draw an overview of the possible applications of such materials, in connection with field enhancement and super resolution nanoscopy.
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования
Текст примечания
461 ## - Уровень набора
Заглавие Optical Materials Express
463 ## - Уровень физической единицы
Заглавие Vol. 7, iss. 6
Обозначение тома [P. 1820-1847]
Дата публикации 2017
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин электронный ресурс
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин труды учёных ТПУ
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин рефракционные свойства
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Luk’yanchuk
Часть имени, кроме начального элемента ввода B. S.
Расширение инициалов личного имени Boris
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Paniagua-Domнnguez
Часть имени, кроме начального элемента ввода R.
Расширение инициалов личного имени Ramуn
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Minin
Часть имени, кроме начального элемента ввода I. V.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Senior researcherof Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences
Даты 1960-
Расширение инициалов личного имени Igor Vladilenovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\37571
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Minin
Часть имени, кроме начального элемента ввода O. V.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences
Даты 1960-
Расширение инициалов личного имени Oleg Vladilenovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\44941
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Wang
Часть имени, кроме начального элемента ввода Z.
Расширение инициалов личного имени Zengbo
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Структурное подразделение Институт неразрушающего контроля (ИНК)
-- Кафедра точного приборостроения (ТПС)
-- 63
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\18717
801 #2 - Источник записи
Страна RU
Организация 63413507
Дата составления 20191030
Правила каталогизации RCR
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса https://doi.org/10.1364/OME.7.001820
090 ## - System Control Numbers (Koha)
Koha biblioitem number (autogenerated) 656493
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха)
Тип документа Computer Files

Нет доступных единиц.