Fine features of parametric X-ray radiation by relativistic electrons and ions (Запись № 658079)
[ простой вид ]
| 000 -Маркер | |
|---|---|
| Поле контроля фиксированной длины | 03013nlm1a2200409 4500 |
| 005 - Идентификатор версии | |
| Поле контроля фиксированной длины | 20231030041537.0 |
| 035 ## - Другие системные номера | |
| Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\25152 |
| 100 ## - Данные общей обработки | |
| Данные общей обработки | 20180515a2017 k y0engy50 ba |
| 101 0# - Язык ресурса | |
| Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
| 135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
| Кодированные данные для электронного ресурса | arnn ---uucaa |
| 181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
| Код вида содержания | i |
| 182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
| Код средства доступа | electronic |
| 200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
| Основное заглавие | Fine features of parametric X-ray radiation by relativistic electrons and ions |
| Первые сведения об ответственности | K. B. Korotchenko, Yu. L. Eykhorn, S. B. Dabagov |
| 203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
| Вид содержания | |
| Средство доступа | |
| 300 ## - Общие примечания | |
| Текст примечания | Title screen |
| 320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
| Текст примечания | [References.: 28 tit.] |
| 330 ## - Резюме или реферат | |
| Текст примечания | In present work within the frame of dynamic theory for parametric X-ray radiation in two-beam approximation we have presented detailed studies on parametric radiation emitted by relativistic both electrons and ions at channeling in crystals that is highly requested at planned experiments. The analysis done has shown that the intensity of radiation at relativistic electron channeling in Si (110) with respect to the conventional parametric radiation intensity has up to 5% uncertainty, while the error of approximate formulas for calculating parametric X-ray radiation maxima does not exceed 1.2%. We have demonstrated that simple expressions for the Fourier components of Si crystal susceptibility χ0 and χgσ could be reduced, as well as the temperature dependence for radiation maxima in Si crystal (diffraction plane (110)) within Debye model. Moreover, for any types of channeled ions it is shown that the parametric X-ray radiation intensity is proportional to z2−b(Z,z)/z with the function b(Z,z) depending on the screening parameter and the ion charge number z=Z−Ze. |
| 461 ## - Уровень набора | |
| Заглавие | Physics Letters B |
| 463 ## - Уровень физической единицы | |
| Заглавие | Vol. 774 |
| Обозначение тома | [P. 470-475] |
| Дата публикации | 2017 |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | электронный ресурс |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | труды учёных ТПУ |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | параметрическое излучение |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | рентгеновское излучение |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | зонная структура |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | поперечные структуры |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | энергетические уровни |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | кристаллы |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | каналирование |
| 700 #1 - Имя лица – первичная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Korotchenko |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | K. B. |
| Дополнения к именам, кроме дат | physicis |
| -- | Professor of Tomsk Polytechnic University, doctor of physical and mathematical Sciences |
| Даты | 1949- |
| Расширение инициалов личного имени | Konstantin Borisovich |
| -- | stltpush |
| Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\31536 |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Eykhorn |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | Yu. L. |
| Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
| -- | assistant at Tomsk Polytechnic University |
| Даты | 1991- |
| Расширение инициалов личного имени | Yury Leonidovich |
| -- | stltpush |
| Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\35247 |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Dabagov |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | S. B. |
| Расширение инициалов личного имени | Sultan Barasbievich |
| 712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
| Структурное подразделение | Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов |
| Идентифицирующий признак | (2017- ) |
| -- | 8118 |
| -- | stltpush |
| Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23551 |
| 801 #2 - Источник записи | |
| Страна | RU |
| Организация | 63413507 |
| Дата составления | 20180515 |
| Правила каталогизации | RCR |
| 856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
| Универсальный идентификатор ресурса | https://doi.org/10.1016/j.physletb.2017.09.088 |
| 090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
| Koha biblioitem number (autogenerated) | 658079 |
| 942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
| Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.