Localized surface curvature artifacts in tip-enhanced nanospectroscopy imaging (Запись № 662434)
[ простой вид ]
| 000 -Маркер | |
|---|---|
| Поле контроля фиксированной длины | 03870nlm1a2200493 4500 |
| 005 - Идентификатор версии | |
| Поле контроля фиксированной длины | 20231030041821.0 |
| 035 ## - Другие системные номера | |
| Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\33589 |
| 100 ## - Данные общей обработки | |
| Данные общей обработки | 20200813a2019 k y0engy50 ba |
| 101 0# - Язык ресурса | |
| Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
| 102 ## - Страна публикации или производства | |
| Страна публикации | |
| 135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
| Кодированные данные для электронного ресурса | drcn ---uucaa |
| 181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
| Код вида содержания | i |
| 182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
| Код средства доступа | electronic |
| 200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
| Основное заглавие | Localized surface curvature artifacts in tip-enhanced nanospectroscopy imaging |
| Первые сведения об ответственности | E. S. Sheremet, L. R. Kim, D. I. Stepanishcheva [et al.] |
| 203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
| Вид содержания | |
| Средство доступа | |
| 300 ## - Общие примечания | |
| Текст примечания | Title screen |
| 320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
| Текст примечания | [References: 43 tit.] |
| 330 ## - Резюме или реферат | |
| Текст примечания | Tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) allows the chemical analysis with a spatial resolution at the nanoscale, well beyond what the diffraction limit of light makes possible. We can further boost the TERS sensitivity by using a metallic substrate in the so-called gap-mode TERS. In this context, the goal of this work is to provide a generalized view of imaging artifacts in TERS and near-field imaging that occur due to tip-sample coupling. Contrary to the case of gap-mode with a flat substrate where the size of the enhanced region is smaller than the tip size when visualizing 3D nanostructures the tip convolution effect may broaden the observed dimensions due to the local curvature of the sample. This effect is particularly critical considering that most works on gap-mode TERS consider a perfectly flat substrate which is rarely the case in actual experiments. We investigate a range of substrates to evidence these geometrical effects and to obtain an understanding of the nanoscale curvature role in TERS imaging. Our experimental results are complemented by numerical simulations and an analogy with atomic force microscopy artifacts is introduced. As a result, this work offers a useful analysis of gap-mode TERS imaging with tip- and substrate-related artifacts furthering our understanding and the reliability of near-field optical nanospectroscopy. |
| 333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования | |
| Текст примечания | |
| 461 ## - Уровень набора | |
| Заглавие | Ultramicroscopy |
| 463 ## - Уровень физической единицы | |
| Заглавие | Vol. 206 |
| Обозначение тома | [112811, 8 p.] |
| Дата публикации | 2019 |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | электронный ресурс |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | труды учёных ТПУ |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | imaging artifacts |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | plasmonics |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | nanospectroscopy |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | scanning probe microscopy |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | плазмоника |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | зондовые методы |
| 610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
| Предметный термин | микроскопия |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Sheremet |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | E. S. |
| Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
| -- | Professor of Tomsk Polytechnic University |
| Даты | 1988- |
| Расширение инициалов личного имени | Evgeniya Sergeevna |
| -- | stltpush |
| Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\40027 |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Kim |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | L. R. |
| Расширение инициалов личного имени | Larisa Robertovna |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Stepanishcheva |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | D. I. |
| Расширение инициалов личного имени | Darjya Igorevna |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Kolchuzhin |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | V. A. |
| Расширение инициалов личного имени | Vladimir Anatoljevich |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Milekhin |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. G. |
| Расширение инициалов личного имени | Aleksandr Germanovich |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Zahn |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | D. R. T. |
| Расширение инициалов личного имени | Dietrich |
| 701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Rodriguez (Rodriges) Contreras |
| Часть имени, кроме начального элемента ввода | R. D. |
| Дополнения к именам, кроме дат | Venezuelan physicist, doctor of science |
| -- | Professor of Tomsk Polytechnic University |
| Даты | 1982- |
| Расширение инициалов личного имени | Raul David |
| -- | stltpush |
| Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\39942 |
| 712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
| Структурное подразделение | Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов |
| Идентифицирующий признак | (2017- ) |
| -- | 8118 |
| -- | stltpush |
| Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23551 |
| 712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
| Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
| Структурное подразделение | Исследовательская школа химических и биомедицинских технологий (ИШХБМТ) |
| Идентифицирующий признак | (2017- ) |
| -- | 8120 |
| -- | stltpush |
| Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23537 |
| 801 #2 - Источник записи | |
| Страна | RU |
| Организация | 63413507 |
| Дата составления | 20200813 |
| Правила каталогизации | RCR |
| 856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
| Универсальный идентификатор ресурса | https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112811 |
| 090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
| Koha biblioitem number (autogenerated) | 662434 |
| 942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
| Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.