Ablation of single-crystalline cesium iodide by extreme ultraviolet capillary-discharge laser (Запись № 665000)
[ простой вид ]
000 -Маркер | |
---|---|
Поле контроля фиксированной длины | 02250nlm1a2200409 4500 |
005 - Идентификатор версии | |
Поле контроля фиксированной длины | 20231030041948.0 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\36199 |
100 ## - Данные общей обработки | |
Данные общей обработки | 20210621a2020 k y0engy50 ba |
101 0# - Язык ресурса | |
Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
102 ## - Страна публикации или производства | |
Страна публикации | |
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
Кодированные данные для электронного ресурса | drcn ---uucaa |
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
Код вида содержания | i |
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
Код средства доступа | electronic |
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
Основное заглавие | Ablation of single-crystalline cesium iodide by extreme ultraviolet capillary-discharge laser |
Первые сведения об ответственности | J. Wild, P. Pira, T. Burian [et al.] |
203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
Вид содержания | |
Средство доступа | |
300 ## - Общие примечания | |
Текст примечания | Title screen |
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
Текст примечания | [References: 23 tit.] |
330 ## - Резюме или реферат | |
Текст примечания | Extreme ultraviolet (XUV) capillary-discharge lasers (CDLs) are a suitable source for the effi cient, clean ablation of ionic crystals, which are obviously diffi cult to ablate with conventional, long-wavelength lasers. In the present study, a single crystal of cesium iodide (CsI) was irradiated by multiple, focused 1.5-ns pulses of 46.9-nm radiation delivered from a compact XUV-CDL device operated at either 2-Hz or 3-Hz repetition rates. The ablation rates were determined from the depth of the craters produced by the accumulation of laser pulses. Langmuir probes were used to diagnose the plasma plume produced by the focused XUV-CDL beam. Both the electron density and electron temperature were suffi ciently high to confi rm that ablation was the key process in the observed CsI removal. Moreover, a CsI thin fi lm on MgO substrate was prepared by XUV pulsed laser deposition; a fraction of the fi lm was detected by X-ray photoelectron spectroscopy. |
461 ## - Уровень набора | |
Заглавие | Nukleonika |
463 ## - Уровень физической единицы | |
Заглавие | Vol. 65, iss. 4 |
Обозначение тома | [P. 205-210] |
Дата публикации | 2020 |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | электронный ресурс |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | труды учёных ТПУ |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | ablation |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | CsI |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | desorption |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | laser |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Wild |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | J. |
Расширение инициалов личного имени | Jan |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Pira |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | P. |
Расширение инициалов личного имени | Peter |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Burian |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | T. |
Расширение инициалов личного имени | Tomas |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Vysin |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | L. |
Расширение инициалов личного имени | Ludek |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Juha |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | L. |
Расширение инициалов личного имени | Libor |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Tichy |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | M. |
Дополнения к именам, кроме дат | chemist |
-- | Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences |
Даты | 1947- |
Расширение инициалов личного имени | Milan |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\35771 |
801 #2 - Источник записи | |
Страна | RU |
Организация | 63413507 |
Дата составления | 20210621 |
Правила каталогизации | RCR |
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
Универсальный идентификатор ресурса | https://doi.org/10.2478/nuka-2020-0031 |
090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
Koha biblioitem number (autogenerated) | 665000 |
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.