Effect of the Temperature Gradient on the X-ray Diffraction Spectrum of a Quartz Crystal (Запись № 666978)

Подробно MARC
000 -Маркер
Поле контроля фиксированной длины 04048nlm1a2200493 4500
005 - Идентификатор версии
Поле контроля фиксированной длины 20231030042055.0
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\38182
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи RU\TPU\network\20498
100 ## - Данные общей обработки
Данные общей обработки 20220209a2017 k y0engy50 ba
101 0# - Язык ресурса
Язык текста, звукозаписи и т.д. английский
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы
Кодированные данные для электронного ресурса drcn ---uucaa
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания
Код вида содержания i
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа
Код средства доступа electronic
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности
Основное заглавие Effect of the Temperature Gradient on the X-ray Diffraction Spectrum of a Quartz Crystal
Первые сведения об ответственности A. R. Mkrtchan (Mkrtchyan), A. P. Potylitsyn, A. V. Vukolov [et al.]
203 ## - Вид содержания и средство доступа
Вид содержания
Средство доступа
300 ## - Общие примечания
Текст примечания Title screen
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя
Текст примечания [References: 10 tit.]
330 ## - Резюме или реферат
Текст примечания The spectra of X-ray diffraction from the reflecting atomic plane of a quartz single crystal are studied in Laue geometry under the action of temperature gradient on a BDER-KI-11K spectrometer with a resolution of 300 eV on the Am241 line of 17.74 keV. The temperature gradient leads to an increase in the intensity of the diffracted beam depending on the heating temperature. It is shown that the intensity of X-ray diffraction in Laue geometry may increase at a temperature gradient of 250○C/cm by two orders of magnitude in comparison with the uniform temperature state of the crystal. The rocking curve of the reflected beam is obtained at a fixed observation angle of 6○ and a specified temperature gradient. It is demonstrated that the intensity of the reflected beam increases with increasing temperature gradient (to a certain value), while the spectral width of the reflection line remains constant and is governed by the energy resolution of the spectrometer. A further growth in the temperature gradient leads to an increase in the spectral width of the reflection line with decreasing intensity of the reflected beam.
461 ## - Уровень набора
Заглавие Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
463 ## - Уровень физической единицы
Заглавие Vol. 11, iss. 6
Обозначение тома [P. 1109-1112]
Дата публикации 2017
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин электронный ресурс
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин труды учёных ТПУ
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин X-ray radiation
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин crystal
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин quartz
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин temperature gradient
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин рентгеновские излучения
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин кристаллы
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин кварц
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин температурные градиенты
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Mkrtchan (Mkrtchyan)
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. R.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences
Даты 1937-
Расширение инициалов личного имени Alpik Rafaelovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\34236
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Potylitsyn
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. P.
Дополнения к именам, кроме дат Russian physicist
-- Professor of the TPU
Даты 1945-
Расширение инициалов личного имени Alexander Petrovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\26306
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Vukolov
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. V.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Research associate of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences
Даты 1978-
Расширение инициалов личного имени Artem Vladimirovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\31209
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Novokshonov
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. I.
Расширение инициалов личного имени Artyom Igorevich
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Gogolev
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. S.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- associate professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences
Даты 1983-
Расширение инициалов личного имени Aleksey Sergeevich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\31537
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Amiragyan
Часть имени, кроме начального элемента ввода R. V.
Расширение инициалов личного имени Ruben
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Movsisyan
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. E.
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Структурное подразделение Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов
Идентифицирующий признак (2017- )
-- 8118
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\23551
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Структурное подразделение Физико-технический институт
-- Кафедра прикладной физики (№ 12)
-- Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика"
-- 7002
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\19530
801 #2 - Источник записи
Страна RU
Организация 63413507
Дата составления 20220209
Правила каталогизации RCR
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса https://doi.org/10.1134/S1027451017050111
090 ## - System Control Numbers (Koha)
Koha biblioitem number (autogenerated) 666978
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха)
Тип документа Computer Files

Нет доступных единиц.