Effect of the Temperature Gradient on the X-ray Diffraction Spectrum of a Quartz Crystal (Запись № 666978)
[ простой вид ]
000 -Маркер | |
---|---|
Поле контроля фиксированной длины | 04048nlm1a2200493 4500 |
005 - Идентификатор версии | |
Поле контроля фиксированной длины | 20231030042055.0 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\38182 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | RU\TPU\network\20498 |
100 ## - Данные общей обработки | |
Данные общей обработки | 20220209a2017 k y0engy50 ba |
101 0# - Язык ресурса | |
Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
Кодированные данные для электронного ресурса | drcn ---uucaa |
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
Код вида содержания | i |
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
Код средства доступа | electronic |
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
Основное заглавие | Effect of the Temperature Gradient on the X-ray Diffraction Spectrum of a Quartz Crystal |
Первые сведения об ответственности | A. R. Mkrtchan (Mkrtchyan), A. P. Potylitsyn, A. V. Vukolov [et al.] |
203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
Вид содержания | |
Средство доступа | |
300 ## - Общие примечания | |
Текст примечания | Title screen |
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
Текст примечания | [References: 10 tit.] |
330 ## - Резюме или реферат | |
Текст примечания | The spectra of X-ray diffraction from the reflecting atomic plane of a quartz single crystal are studied in Laue geometry under the action of temperature gradient on a BDER-KI-11K spectrometer with a resolution of 300 eV on the Am241 line of 17.74 keV. The temperature gradient leads to an increase in the intensity of the diffracted beam depending on the heating temperature. It is shown that the intensity of X-ray diffraction in Laue geometry may increase at a temperature gradient of 250○C/cm by two orders of magnitude in comparison with the uniform temperature state of the crystal. The rocking curve of the reflected beam is obtained at a fixed observation angle of 6○ and a specified temperature gradient. It is demonstrated that the intensity of the reflected beam increases with increasing temperature gradient (to a certain value), while the spectral width of the reflection line remains constant and is governed by the energy resolution of the spectrometer. A further growth in the temperature gradient leads to an increase in the spectral width of the reflection line with decreasing intensity of the reflected beam. |
461 ## - Уровень набора | |
Заглавие | Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques |
463 ## - Уровень физической единицы | |
Заглавие | Vol. 11, iss. 6 |
Обозначение тома | [P. 1109-1112] |
Дата публикации | 2017 |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | электронный ресурс |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | труды учёных ТПУ |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | X-ray radiation |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | crystal |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | quartz |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | temperature gradient |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | рентгеновские излучения |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | кристаллы |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | кварц |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | температурные градиенты |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Mkrtchan (Mkrtchyan) |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. R. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences |
Даты | 1937- |
Расширение инициалов личного имени | Alpik Rafaelovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\34236 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Potylitsyn |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. P. |
Дополнения к именам, кроме дат | Russian physicist |
-- | Professor of the TPU |
Даты | 1945- |
Расширение инициалов личного имени | Alexander Petrovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\26306 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Vukolov |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. V. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | Research associate of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences |
Даты | 1978- |
Расширение инициалов личного имени | Artem Vladimirovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\31209 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Novokshonov |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. I. |
Расширение инициалов личного имени | Artyom Igorevich |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Gogolev |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. S. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | associate professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences |
Даты | 1983- |
Расширение инициалов личного имени | Aleksey Sergeevich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\31537 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Amiragyan |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | R. V. |
Расширение инициалов личного имени | Ruben |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Movsisyan |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. E. |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
Структурное подразделение | Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов |
Идентифицирующий признак | (2017- ) |
-- | 8118 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23551 |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
Структурное подразделение | Физико-технический институт |
-- | Кафедра прикладной физики (№ 12) |
-- | Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" |
-- | 7002 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\19530 |
801 #2 - Источник записи | |
Страна | RU |
Организация | 63413507 |
Дата составления | 20220209 |
Правила каталогизации | RCR |
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
Универсальный идентификатор ресурса | https://doi.org/10.1134/S1027451017050111 |
090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
Koha biblioitem number (autogenerated) | 666978 |
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.