Orientation analysis of polymer thin films on metal surfaces via IR absorbance of the relative transition dipole moments (Запись № 668104)

Подробно MARC
000 -Маркер
Поле контроля фиксированной длины 04108nlm1a2200505 4500
005 - Идентификатор версии
Поле контроля фиксированной длины 20231030042137.0
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\39328
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи RU\TPU\network\37102
100 ## - Данные общей обработки
Данные общей обработки 20220620a2022 k y0engy50 ba
101 0# - Язык ресурса
Язык текста, звукозаписи и т.д. английский
102 ## - Страна публикации или производства
Страна публикации
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы
Кодированные данные для электронного ресурса drcn ---uucaa
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания
Код вида содержания i
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа
Код средства доступа electronic
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности
Основное заглавие Orientation analysis of polymer thin films on metal surfaces via IR absorbance of the relative transition dipole moments
Первые сведения об ответственности A. K. Frue, S. Rutkowski, I. O. Akimchenko [et al.]
203 ## - Вид содержания и средство доступа
Вид содержания
Средство доступа
300 ## - Общие примечания
Текст примечания Title screen
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя
Текст примечания [References: 69 tit.]
330 ## - Резюме или реферат
Текст примечания Modern technology has increasing requirements for thin film based electronic devices. Many surface and electronic properties strongly depend on the orientation of the material. Industrial development has a need for cheap, non-destructive, and fast orientation analysis in different conditions. Infrared-orientation analysis is less represented in literature compared to other orientation methods, while offering a lot of unique advantages. In this respect for thin polymeric films, we propose infrared (IR) absorbance-spectroscopy near metal surfaces to distinguish the orientation of different molecular segments. By use of the ratio method, the calculation of the orientation becomes mostly independent from the angle of incidence and averages out aperture errors of the measurement setup, hence the given solutions are generally applicable for many setups. For the most common point groups, the hereby-presented mathematical solution is valid for thin films cast on metal surfaces. Extensive quantum mechanical calculations of the transition dipole moments are avoided for known IR spectroscopy bands. The detailed application of the given IR orientation analysis is demonstrated for the polymers polystyrene, polyethylene glycol, poly(methyl methacrylate) and polyvinyl acetate. Each segment of these polymers is analyzed for the preferred molecular orientation in respect to the surface.
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования
Текст примечания
461 ## - Уровень набора
Заглавие Applied Surface Science
463 ## - Уровень физической единицы
Заглавие Vol. 594
Обозначение тома [153476, 10 p.]
Дата публикации 2022
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин электронный ресурс
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин труды учёных ТПУ
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин group theory
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин IR-spectroscopy
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин polarization
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин transition dipole moment
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин IR-absorbance
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин thin polymer films
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин теория групп
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин ИК-спектроскопия
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин поляризация
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Frue
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. K.
Расширение инициалов личного имени Andreas Kristian
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Rutkowski
Часть имени, кроме начального элемента ввода S.
Дополнения к именам, кроме дат chemist
-- Research Engineer, Tomsk Polytechnic University, Ph.D
Даты 1981-
Расширение инициалов личного имени Sven
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\46773
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Akimchenko
Часть имени, кроме начального элемента ввода I. O.
Расширение инициалов личного имени Igor Olegovich
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Tverdokhlebov
Часть имени, кроме начального элемента ввода S. I.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical science
Даты 1961-
Расширение инициалов личного имени Sergei Ivanovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\30855
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Frueh
Часть имени, кроме начального элемента ввода J. С.
Дополнения к именам, кроме дат specialist in the field of medical technology
-- Researcher of Tomsk Polytechnic University, Ph.D
Даты 1983-
Расширение инициалов личного имени Johannes Christoph
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\47197
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Структурное подразделение Инженерная школа ядерных технологий
-- Научно-образовательный центр Б. П. Вейнберга
-- 7866
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\23561
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Структурное подразделение Инженерная школа ядерных технологий
-- Лаборатория плазменных гибридных систем
-- 7887
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\23381
801 #2 - Источник записи
Страна RU
Организация 63413507
Дата составления 20220620
Правила каталогизации RCR
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2022.153476
090 ## - System Control Numbers (Koha)
Koha biblioitem number (autogenerated) 668104
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха)
Тип документа Computer Files

Нет доступных единиц.