Orientation analysis of polymer thin films on metal surfaces via IR absorbance of the relative transition dipole moments (Запись № 668104)
[ простой вид ]
000 -Маркер | |
---|---|
Поле контроля фиксированной длины | 04108nlm1a2200505 4500 |
005 - Идентификатор версии | |
Поле контроля фиксированной длины | 20231030042137.0 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\39328 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | RU\TPU\network\37102 |
100 ## - Данные общей обработки | |
Данные общей обработки | 20220620a2022 k y0engy50 ba |
101 0# - Язык ресурса | |
Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
102 ## - Страна публикации или производства | |
Страна публикации | |
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
Кодированные данные для электронного ресурса | drcn ---uucaa |
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
Код вида содержания | i |
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
Код средства доступа | electronic |
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
Основное заглавие | Orientation analysis of polymer thin films on metal surfaces via IR absorbance of the relative transition dipole moments |
Первые сведения об ответственности | A. K. Frue, S. Rutkowski, I. O. Akimchenko [et al.] |
203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
Вид содержания | |
Средство доступа | |
300 ## - Общие примечания | |
Текст примечания | Title screen |
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
Текст примечания | [References: 69 tit.] |
330 ## - Резюме или реферат | |
Текст примечания | Modern technology has increasing requirements for thin film based electronic devices. Many surface and electronic properties strongly depend on the orientation of the material. Industrial development has a need for cheap, non-destructive, and fast orientation analysis in different conditions. Infrared-orientation analysis is less represented in literature compared to other orientation methods, while offering a lot of unique advantages. In this respect for thin polymeric films, we propose infrared (IR) absorbance-spectroscopy near metal surfaces to distinguish the orientation of different molecular segments. By use of the ratio method, the calculation of the orientation becomes mostly independent from the angle of incidence and averages out aperture errors of the measurement setup, hence the given solutions are generally applicable for many setups. For the most common point groups, the hereby-presented mathematical solution is valid for thin films cast on metal surfaces. Extensive quantum mechanical calculations of the transition dipole moments are avoided for known IR spectroscopy bands. The detailed application of the given IR orientation analysis is demonstrated for the polymers polystyrene, polyethylene glycol, poly(methyl methacrylate) and polyvinyl acetate. Each segment of these polymers is analyzed for the preferred molecular orientation in respect to the surface. |
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования | |
Текст примечания | |
461 ## - Уровень набора | |
Заглавие | Applied Surface Science |
463 ## - Уровень физической единицы | |
Заглавие | Vol. 594 |
Обозначение тома | [153476, 10 p.] |
Дата публикации | 2022 |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | электронный ресурс |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | труды учёных ТПУ |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | group theory |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | IR-spectroscopy |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | polarization |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | transition dipole moment |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | IR-absorbance |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | thin polymer films |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | теория групп |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | ИК-спектроскопия |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | поляризация |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Frue |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. K. |
Расширение инициалов личного имени | Andreas Kristian |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Rutkowski |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | S. |
Дополнения к именам, кроме дат | chemist |
-- | Research Engineer, Tomsk Polytechnic University, Ph.D |
Даты | 1981- |
Расширение инициалов личного имени | Sven |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\46773 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Akimchenko |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | I. O. |
Расширение инициалов личного имени | Igor Olegovich |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Tverdokhlebov |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | S. I. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical science |
Даты | 1961- |
Расширение инициалов личного имени | Sergei Ivanovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\30855 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Frueh |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | J. С. |
Дополнения к именам, кроме дат | specialist in the field of medical technology |
-- | Researcher of Tomsk Polytechnic University, Ph.D |
Даты | 1983- |
Расширение инициалов личного имени | Johannes Christoph |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\47197 |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
Структурное подразделение | Инженерная школа ядерных технологий |
-- | Научно-образовательный центр Б. П. Вейнберга |
-- | 7866 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23561 |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
Структурное подразделение | Инженерная школа ядерных технологий |
-- | Лаборатория плазменных гибридных систем |
-- | 7887 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23381 |
801 #2 - Источник записи | |
Страна | RU |
Организация | 63413507 |
Дата составления | 20220620 |
Правила каталогизации | RCR |
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
Универсальный идентификатор ресурса | https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2022.153476 |
090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
Koha biblioitem number (autogenerated) | 668104 |
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.