Fundamental of Nanoscale Film Analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer

Основной Автор-лицо: Alford, T. L., Terry L.Альтернативный автор-лицо: Feldman, L. C., Leonard C.;Mayer, J. W., James W.Язык: английский.Страна: .Публикация: : Springer, 2007Описание: 336 p. : il.ISBN: 9780387292601.Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: Index: p. 330-336.; Библиография в конце глав..Наименование темы как предмет: Физика твердого тела Тематика: физика | твердые тела | структурный анализ | монокристаллы | нанокристаллы | наноструктуры | измерения | электронная микроскопия | свойства | исследование | оборудование | английский язык
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип издания Текущая библиотека Шифр хранения Доступность Штрихкод | RFID
Books НТБ ТПУ Читальный зал иностранной литературы 539.2 A34 В наличии 13821000398934
Всего резервирований: 0

Index: p. 330-336.

Библиография в конце глав.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.