Mass Transfer of an Implanted Dopant in Materials under High-Power Pulsed Ion Beam Impact [Electronic resource] / A. V. Petrov [et al.]

Альтернативный автор-лицо: Petrov, A. V.;Polkovnikova, N. M.;Ryabchikov, A. I., Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences, physicist, 1950-, Aleksandr Ilyich;Sokhoreva, V. V.;Struts, V. K.;Usov, Y. P., Professor of Tomsk Polytechnic University, Electrical engineer, Doctor of Technical Sciences, 1937-, Yuri Petrovich;Shulepov, I. A.Язык: английский.Страна: Россия.Серия: Modification of material propertiesРезюме или реферат: The results of experimental studies of the mass transfer features in Ti-Si and Ti-Fe systems during repeated alternate processes of Ti ion implantation and irradiation with a high-power ion beam are presented for ion beam energy densities of ≤ 2 J/cm2. The analysis of the final state of samples surface after the combined treatment is carried out..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: p. 348-349 (14 tit.)].Аудитория: .Тематика: физика | материалы | массоперенос | ионная имплантация | мощные ионные пучки | ионное облучение | массообмен | имплантированные примеси | труды учёных ТПУ | электронный ресурс Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title from the title-page.

[References: p. 348-349 (14 tit.)]

The results of experimental studies of the mass transfer features in Ti-Si and Ti-Fe systems during repeated alternate processes of Ti ion implantation and irradiation with a high-power ion beam are presented for ion beam energy densities of ≤ 2 J/cm2. The analysis of the final state of samples surface after the combined treatment is carried out.

Text files

Adobe Reader

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.