Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis / L. C. Feldman, J. W. Mayer

Основной Автор-лицо: Feldman, L. C., LeonardАльтернативный автор-лицо: Mayer, J. W., JamesЯзык: английский.Страна: .Публикация: : North-Holland, 1986Описание: 352 p. : il.Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: Index: p. 345-352.Наименование темы как предмет: Пленки тонкие -- Исследование -- (твердые тела) Тематика: физика | физические исследования | тонкие пленки | анализ | поверхностные свойства | английский язык
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип издания Текущая библиотека Шифр хранения Доступность Штрихкод | RFID
Books НТБ ТПУ Научный фонд 87-10597 В наличии 13821000751450
Всего резервирований: 0

Index: p. 345-352

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.