Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie / R. Hillebrand [и др.]

Альтернативный автор-лицо: Hillebrand, R.;Scheerschmidt, K.;Neumann, W.;Werner, P.;Pippel, A.Язык: русский.Страна: .Публикация: : Akademie-Verlag, 1984Описание: 125 s. : il.Серия: Beitrage zur Forschungstechnologie, Bd. 11Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: Literatur: s. 111-118; Sachregister: s. 119-121.Наименование темы как предмет: Электронная микроскопия Тематика: электронномикроскопические исследования | электронномикроскопический анализ | высокое разрешение | изображения | интерпретация | методы | расчеты | ЭВМ | кристаллические решетки | атомы | анализ | немецкий язык
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип издания Текущая библиотека Шифр хранения Доступность Штрихкод | RFID
Books НТБ ТПУ Научный фонд 85-5583 В наличии 13821000733317
Всего резервирований: 0

Literatur: s. 111-118

Sachregister: s. 119-121

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.