High performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing / A. Purgin ; sci. adv. E. V. Yakimov

Основной Автор-лицо: Purgin, A.Вторичный автор-лицо: Yakimov, E. V., specialist in the field of control and measurement equipment, Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences, 1975-, Evgeny Valeryevich, 727Коллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)Язык: английский.Страна: Россия.Описание: 1 файл (310 Кб)Резюме или реферат: This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: p. 223 (3 tit.)].Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | микропроцессорные системы | вихревые токи | дефектоскопы | сигналы | данные | сбор данных | обработка Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн | Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Заглавие с экрана

[References: p. 223 (3 tit.)]

This article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.

Adobe Reader

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.