Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objective / L. G. Sukhikh, I. Artyukov, S. Bajt [et al.]

Альтернативный автор-лицо: Sukhikh, L. G., physicist, Researcher of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences, 1984-, Leonid Grigorievich;Artyukov, I., Igor;Bajt, S., Sasa;Kube, G., Gero;Lauth, W., Werner;Potylitsyn, A. P., Russian physicist, Professor of the TPU, 1945-, Alexander Petrovich;Vukolov, A. V., physicist, Research associate of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences, 1978-, Artem VladimirovichКоллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Физико-технический институт (ФТИ), Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)Язык: английский.Страна: Россия.Серия: Transition RadiationПримечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: p. 88 (4 tit.)].Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | измерения | свет | переходные излучения | изображения | пучки | электронные ускорители Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн | Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen.

[References: p. 88 (4 tit.)]

Adobe Reader

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.