Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objective / L. G. Sukhikh, I. Artyukov, S. Bajt [et al.]
Язык: английский.Страна: Россия.Серия: Transition RadiationПримечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: p. 88 (4 tit.)].Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | измерения | свет | переходные излучения | изображения | пучки | электронные ускорители Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн | Щелкните здесь для доступа в онлайнНет реальных экземпляров для этой записи
Title screen.
[References: p. 88 (4 tit.)]
Adobe Reader
Для данного заглавия нет комментариев.
Личный кабинет оставить комментарий.