Measurement of Wide-Aperture X-ray Beam Trasverse Profile Based on Multiangular Wire Scanning / S. G. Stuchebrov, A. A. Bulavskaya, Yu. M. Cherepennikov, I. A. Miloichikova

Альтернативный автор-лицо: Stuchebrov, S. G., physicist, Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of Sciences, 1981-, Sergey Gennadevich;Bulavskaya, A. A., Specialist in the field of nuclear technologies, Research Engineer of Tomsk Polytechnic University, 1993-, Angelina Aleksandrovna;Cherepennikov, Yu. M., physicist, Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of Sciences, 1989-, Yuriy Mihaylovich;Miloichikova, I. A., physicist, engineer of Tomsk Polytechnic University, 1988-, Irina AlekseevnaКоллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, (2017- );Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Инженерная школа ядерных технологий, Отделение ядерно-топливного циклаЯзык: английский.Страна: Россия.Серия: Applications of Monochromatic X-ray, [gamma]-rayТематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | профили | пучки | рентгеновские лучи | сканирование | плотность | потоки частиц | детекторы | фотоны | оптические волокна | рентгеновские трубки | фотоумножители Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.