Experimental observation of parametric X-ray radiation directed along the propagation velocity of relativistic electrons in a tungsten crystal / A. N. Aleinik [et al.]

Уровень набора: JETP Letters, Scientific Journal = 1974-Альтернативный автор-лицо: Baldin, A. N.;Baldin, A. N.;Bogomazova, E. A.;Vnukov, I. E.;Kalinin, B. N.;Kubankin, A. S., physicist, expert of Tomsk Polytechnic University, candidate of physico-mathematical Sciences, 1981-, Aleksandr Sergeevich;Nasonov, N. N.;Naumenko, G. A., physicist, senior research fellow of Tomsk Polytechnic University, 1947-, Gennadiy Andreevich;Potylitsyn, A. P., Russian physicist, Professor of the TPU, 1945-, Alexander Petrovich;Sharafutdinov, A. F.;Aleinik, A. N., physicist, Senior researcher of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical science, 1944-, Aleksandr NikonorovichЯзык: английский.Страна: .Резюме или реферат: Parametric X-ray radiation (PXR) due to dynamic diffraction of relativistic electrons is experimentally observed at small angles to the propagation velocity of electrons in a tungsten crystal. The specific features of the experimental method are described, and forward PXR reflections from two crystallographic planes of tungsten are reliably measured.Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [Referen.: p.397 (16 title)].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | relativistic electrons | релятивистские электроны | radiation | излучение Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[Referen.: p.397 (16 title)]

Parametric X-ray radiation (PXR) due to dynamic diffraction of relativistic electrons is experimentally observed at small angles to the propagation velocity of electrons in a tungsten crystal. The specific features of the experimental method are described, and forward PXR reflections from two crystallographic planes of tungsten are reliably measured

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.