Electromagnetic-emission diagnostics of dielectric materials under ultrasonic loading / V. L. Chakhlov, V. I. Simanchuk, A. V. Kargapol'tsev

Уровень набора: Russian Physics JournalОсновной Автор-лицо: Chakhlov, V. L., physicist, Honored worker of science and technology of the Russian Federation, Honored Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor ofTechnical Sciences (DSc), 1934-2011, Vladimir LukianovichАльтернативный автор-лицо: Simanchuk, V. I.;Kargapol'tsev, A. V.Язык: английский.Страна: Россия.Резюме или реферат: The electromagnetic-emission diagnostic inspection of solid dielectrics subjected to ultrasonic loading created by a pulsed laser beam of nanosecond duration is investigated experimentally. The experimental apparatus and procedure are described. It is shown that the procedure is an effective diagnostic tool for monitoring the electrical state and structure of solid dielectric materials..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: p. 763 (7 tit.)].Аудитория: .Тематика: труды учёных ТПУ | электронный ресурс | диэлектрические материалы | электромагнитная диагностика Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: p. 763 (7 tit.)]

The electromagnetic-emission diagnostic inspection of solid dielectrics subjected to ultrasonic loading created by a pulsed laser beam of nanosecond duration is investigated experimentally. The experimental apparatus and procedure are described. It is shown that the procedure is an effective diagnostic tool for monitoring the electrical state and structure of solid dielectric materials.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.