Detecting unit for X-ray nondestructive testing systems / I. F. Nam, A. A. Sakashev, S. A. Ryabkov

Основной Автор-лицо: Nam, I. F., specialist in the field of electrophysics, Associate Professor of Tomsk Polytechnic University,candidate of technical sciences, 1981-, Irina FeliksovnaАльтернативный автор-лицо: Sakashev, A. A., Amyr Aleksandrovich;Ryabkov, S. A., Sergey AleksandrovichКоллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)Язык: английский.Резюме или реферат: To provide an adequate X-ray detection efficiency is a real challenge to designers of digital radiographic systems for different applications, including medicine, biology, and nondestructive testing of materials and structural members. Analysis of the state-of-the art digital radiographic systems shows that the greatest body of information is obtained from imaging systems based on semiconductor X-ray detectors (Si, GaAs, Cd1-xZnxTe). Results of development of detecting unit for x-ray nondestructive testing systems are described in this paper..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 3 tit.].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | detecting unit | X-Ray | nondestructive testing Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: 3 tit.]

To provide an adequate X-ray detection efficiency is a real challenge to designers of digital radiographic systems for different applications, including medicine, biology, and nondestructive testing of materials and structural members. Analysis of the state-of-the art digital radiographic systems shows that the greatest body of information is obtained from imaging systems based on semiconductor X-ray detectors (Si, GaAs, Cd1-xZnxTe). Results of development of detecting unit for x-ray nondestructive testing systems are described in this paper.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.