Significance of electrically induced shear stress in drainage of thin aqueous films / Christiaan Ketelaar, V. S. Azhaev

Уровень набора: Physical Review E, Scientific JournalОсновной Автор-лицо: Ketelaar, C., ChristiaanАльтернативный автор-лицо: Azhaev, V. S., Vladimir Sergeevich;Azhaev, V. S., specialist in the field of power engineering, leading researcher of Tomsk Polytechnic University, 1973-, Vladimir SergeevichКоллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Энергетический институт (ЭНИН), Кафедра автоматизации теплоэнергетических процессов (АТП)Язык: английский.Страна: .Резюме или реферат: We develop a novel model of drainage of microscale thin aqueous film separating a gas bubble and a solid wall. In contrast to previous studies, the electrostatic effects are accounted for not only in the normal but also in the shear stress balance at the liquid-gas interface. We show that the action of the tangential component of the electric field leads to potentially strong spatially variable shear stress at the deforming charged interface. This previously overlooked effect turns out to be essential for correctly estimating the long-time drainage rates. Comparison of time-dependent fluid interface shapes predicted by our model with the experimental data is discussed..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 17 tit.].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | электрические напряжения Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: 17 tit.]

We develop a novel model of drainage of microscale thin aqueous film separating a gas bubble and a solid wall. In contrast to previous studies, the electrostatic effects are accounted for not only in the normal but also in the shear stress balance at the liquid-gas interface. We show that the action of the tangential component of the electric field leads to potentially strong spatially variable shear stress at the deforming charged interface. This previously overlooked effect turns out to be essential for correctly estimating the long-time drainage rates. Comparison of time-dependent fluid interface shapes predicted by our model with the experimental data is discussed.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.