Three-axis MEMS Accelerometer for Structural Inspection / E. S. Barbin [et al.]

Уровень набора: (RuTPU)RU\TPU\network\3526, Journal of Physics: Conference SeriesАльтернативный автор-лицо: Barbin, E. S., specialist in the field of instrument engineering, engineer of Tomsk Polytechnic University, 1988-, Evgeny Sergeevich;Koleda, A. N., Specialist in the field of instrument making, Engineer of Tomsk Polytechnic University, 1985-, Aleksey Nikolaevich;Nesterenko, T. G., specialist in the field of mechanical engineering, Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences, 1946-, Tamara Georgievna;Vtorushin, S.Коллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Кафедра точного приборостроения (ТПС)Язык: английский.Резюме или реферат: Microelectromechanical system accelerometers are widely used for metrological measurements of acceleration, tilt, vibration, and shock in moving objects. The paper presents the analysis of MEMS accelerometer that can be used for the structural inspection. ANSYS Multiphysics platform is used to simulate the behavior of MEMS accelerometer by employing a finite element model and MATLAB/Simulink tools for modeling nonlinear dynamic systems..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 6 tit.].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | акселерометры | ANSYS | поведение | конечно-элементные модели | MatLab | Simulink | нелинейные системы | динамические системы Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн | Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: 6 tit.]

Microelectromechanical system accelerometers are widely used for metrological measurements of acceleration, tilt, vibration, and shock in moving objects. The paper presents the analysis of MEMS accelerometer that can be used for the structural inspection. ANSYS Multiphysics platform is used to simulate the behavior of MEMS accelerometer by employing a finite element model and MATLAB/Simulink tools for modeling nonlinear dynamic systems.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.
Предыд.
Результ
След.
Закрыть