The Effect of the Electronic Subsystem on the Deformation and Stress Localization in the Surface Layer of Solids / Yu. A. Khon, P. P. Kaminskii, E. A. Moldovanova
Уровень набора: (RuTPU)RU\TPU\network\4816, AIP Conference ProceedingsЯзык: английский.Резюме или реферат: The paper studies the influence of electron transitions between energy levels in a stressed solid on the morphological instability of the surface. The instability development leads to the localization of inelastic deformation and nucleation of stress concentrators in the surface layer of solids..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 13 tit.].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | пластические сдвиги | микротрещины | квантовые эффекты | электронные подсистемы | деформирование | поверхностные слои | твердые тела | plastic shear | micro-crack | quantum effects | order parameters | nucleatio Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайнНет реальных экземпляров для этой записи
Title screen
[References: 13 tit.]
The paper studies the influence of electron transitions between energy levels in a stressed solid on the morphological instability of the surface. The instability development leads to the localization of inelastic deformation and nucleation of stress concentrators in the surface layer of solids.
Для данного заглавия нет комментариев.
Личный кабинет оставить комментарий.