Investigation of rutilizing additive influence in hydrated titanium dioxide at thermal processing / A. S. Kantaev [et al.]

Уровень набора: (RuTPU)RU\TPU\network\4526, MATEC Web of ConferencesАльтернативный автор-лицо: Kantaev, A. S., chemist, Assistant of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences, 1981-, Aleksandr Sergeevich;Lashtur, A. L.;Kraydenko, R. I., Chemical Engineer, Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Senior Researcher, Candidate of chemical sciences, 1983-, Roman Ivanovich;Dyachenko, A. N., Chemical Engineer, Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences, 1977-, Alexander NikolaevichКоллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Физико-технический институт (ФТИ), Кафедра химической технологии редких, рассеянных и радиоактивных элементов (№ 43) (ХТРЭ)Язык: английский.Резюме или реферат: The influence of a rutilizing additive in hydrated titanium dioxide is studied at its dehydrationwithin the range of temperaturesfrom 100 to 230° С. The quantityof major impurities isdetermined using an atom-emission spectrometer. Also, the X-ray diffraction analysis of obtained samplesis performed..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 4 tit.].Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | диоксид титана | термическая обработка | примеси | рентгеновский анализ | дифракционный анализ | добавки | спектрометры | гетерогенные реакции | гетерогенная кинетика Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн | Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: 4 tit.]

The influence of a rutilizing additive in hydrated titanium dioxide is studied at its dehydrationwithin the range of temperaturesfrom 100 to 230° С. The quantityof major impurities isdetermined using an atom-emission spectrometer. Also, the X-ray diffraction analysis of obtained samplesis performed.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.