Application of dual energy method for non-destructive testing of materials designed to work in extreme conditions / S. V. Chakhlov [et al.]

Уровень набора: (RuTPU)RU\TPU\network\4526, MATEC Web of ConferencesАльтернативный автор-лицо: Chakhlov, S. V., physicist, Head of the laboratory of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences, 1956-, Sergey Vladimirovich;Wang Yanzhao, specialist in the field of non-destructive testing, Associate Scientistof Tomsk Polytechnic University, 1991-;Osipov, S. P., specialist in the field of non-destructive testing, Leading researcher of Tomsk Polytechnic University, candidate of technical sciences, 1958-, Sergey Pavlovich;Udod, V. A., specialist in the field of non-destructive testing, Leading researcher of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences, 1959-, Viktor AnatolievichКоллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД)Язык: английский.Резюме или реферат: The description of the dual energy method (DEM) for non-destructive testing (NDT) of materials and products is presented. It highlights the key factors that determine its accuracy and performance and shows the possibilities for its further improvement. The correlation between the quantum noise level and the DEM precision of the effective atomic number was found..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 14 tit.].Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | энергия | неразрушающий контроль | материалы | экстремальные условия | энергопотребление | корреляция | квантовые шумы Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн | Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: 14 tit.]

The description of the dual energy method (DEM) for non-destructive testing (NDT) of materials and products is presented. It highlights the key factors that determine its accuracy and performance and shows the possibilities for its further improvement. The correlation between the quantum noise level and the DEM precision of the effective atomic number was found.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.