Simple and robust methodology of defect thermal characterization based on thermal quadrupoles and polynomial approximation / D. A. Nesteruk, V. P. Vavilov, A. O. Chulkov, D. Burleigh

Уровень набора: NDT & E InternationalАльтернативный автор-лицо: Nesteruk, D. A., specialist in the field of descriptive geometry, Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences, 1979-, Denis Alekseevich;Vavilov, V. P., Specialist in the field of dosimetry and methodology of nondestructive testing (NDT), Doctor of technical sciences (DSc), Professor of Tomsk Polytechnic University (TPU), 1949-, Vladimir Platonovich;Chulkov, A. O., specialist in the field of non-destructive testing, Engineer of Tomsk Polytechnic University, 1989-, Arseniy Olegovich;Burleigh, D., DouglasКоллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности, Центр промышленной томографии, Научно-производственная лаборатория "Бетатронная томография крупногабаритных объектов";Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности, Центр промышленной томографии, Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль"Язык: английский.Страна: .Резюме или реферат: An approach is proposed to evaluate the depth and thickness of planar defects detected by thermal nondestructive testing (TNDT) methods. A 1D 3-layer thermal problem is solved by using the technique of thermal quadrupoles, and the solution of the corresponding inverse problem is presented in the polynomial form. The inverse solution involves a number of TNDT experimental parameters, in particular, differential temperature signals, dimensionless contrasts and their observation times. The accuracy of defect characterization is in the range of 2–15% in defect depth and from 10 to 40% in defect thickness. It is believed that the proposed defect characterization approach can be easily implemented in existing TNDT systems to provide approximate values of defect parameters..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 25 tit.].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | thermal nondestructive testing | defect characterization | thermal quadrupoles | polynomial fitting | неразрушающий контроль | дефекты | полиномы Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: 25 tit.]

An approach is proposed to evaluate the depth and thickness of planar defects detected by thermal nondestructive testing (TNDT) methods. A 1D 3-layer thermal problem is solved by using the technique of thermal quadrupoles, and the solution of the corresponding inverse problem is presented in the polynomial form. The inverse solution involves a number of TNDT experimental parameters, in particular, differential temperature signals, dimensionless contrasts and their observation times. The accuracy of defect characterization is in the range of 2–15% in defect depth and from 10 to 40% in defect thickness. It is believed that the proposed defect characterization approach can be easily implemented in existing TNDT systems to provide approximate values of defect parameters.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.