Заглавие с экрана

Целью изучения дисциплины является подготовка специалиста, обладающего знаниями современного состояния теоретических основ и техники для исследования элементного, химического состава и структуры поверхности твердых тел. На базе полученных знаний, специалист должен уметь осуществить правильный выбор методов анализа, необходимой для решения конкретной аналитической задачи. Курс предназначен дать представление о физических процессах, лежащих в основе методов анализа приповерхностной области материалов: образование вакансий на внутренних оболочках электронной структуры (рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия) и переходы между энергетическими уровнями (электронный микроанализ и электронная оже-спектроскопия); распыление образца ионами, искровым разрядом, лазерным излучением (электронная и фотонная спектроскопия и энерго- и масс спектрометрия вторичных ионов и нейтральных частиц); электрон-электронные взаимодействия и пробеги электронов в твердом теле (спектроскопия электронных потерь энергии); дифракция электронов и рентгеновских лучей (дифракция электронов низких энергий и дифракция рентгеновских лучей) и т.д.;