Рентгенография минералов : учебник / Д. Ю. Пущаровский ; Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова

Основной Автор-лицо: Пущаровский, Д. Ю., Дмитрий ЮрьевичКоллективный автор (вторичный): Московский государственный университет им. М. В. ЛомоносоваЯзык: русский.Страна: Россия.Публикация: Москва : Геоинформмарк, 2000Описание: 296 с. : ил.ISBN: 5900357503.Резюме или реферат: Дается описание весьма разнообразных физических явлений, сопровождающих процессы рассеяния дифракции рентгеновских волн в кристаллах, без привлечения сложного математического аппарата. Рассматриваются природа и свойства рентгеновских лучей, излагаются подходы к решению ряда практических задач рентгенографии минералов, представлены основные принципы теории рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах и теоретические основы рентгено-структурного анализа кристаллов. Рассмотрены новые приложения рентгено-структурного анализа для решения важнейших проблем современной геологии и минералогии..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: Библиогр.: с. 288.Наименование темы как предмет: Минералы -- Рентгенографические исследования Тематика: минералогия | рентгенография | кристаллы | X-лучи | рентгенографический анализ | рентгеновские лучи | рассеяние | рентгеноструктурный анализ | учебники
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип издания Текущая библиотека Шифр хранения Состояние Штрихкод | RFID
Books НТБ ТПУ Читальный зал технической литературы 549 П917 В наличии 13821000212904
Всего резервирований: 0

Библиогр.: с. 288

Дается описание весьма разнообразных физических явлений, сопровождающих процессы рассеяния дифракции рентгеновских волн в кристаллах, без привлечения сложного математического аппарата. Рассматриваются природа и свойства рентгеновских лучей, излагаются подходы к решению ряда практических задач рентгенографии минералов, представлены основные принципы теории рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах и теоретические основы рентгено-структурного анализа кристаллов. Рассмотрены новые приложения рентгено-структурного анализа для решения важнейших проблем современной геологии и минералогии.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.