TY  - BOOK
AU  - Endo, I.
AU  - Harada, M.
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AU  - Lee, Y. S.
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AU  - Muto, M.
AU  - Yoshida, K.
AU  - Nitta, H.
AU  - Potylitsyn, A. P.
AU  - Zabaev, V. N.
ED  - Hiroshima University
TI  - Measurements of  Thickness Dependence of Parametric X-Radiation from Si
PY  - 1993///
CY  - Hiroshima
KW  - труды учёных ТПУ
KW  - препринты
ER  -