TY  - GEN
AU  - Ovsyannikov, V. E.
AU  - Nekrasov, R. J.
AU  - Ilyashchenko, D. P.
AU  - Gubenko, A. S.
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
TI  - Improving the accuracy of modeling surface roughness profiles with regular microrelief
T2  - Технологии получения и обработки материалов в машиностроении
KW  - труды учёных ТПУ
KW  - электронный ресурс
KW  - шероховатость
KW  - моделирование
KW  - точность
KW  - закон распределения
KW  - roughness
KW  - modeling
KW  - accuracy
KW  - distribution law
KW  - acceptance criteria
N2  - [Библиогр.: с. 129 (10 назв.)]
UR  - http://earchive.tpu.ru/handle/11683/76568
ER  -