TY  - ELEC
AU  - Adishchev, Yu. N.
AU  - Verzilov, V. A.
AU  - Potylitsyn, A. P.
AU  - Uglov, S. R.
AU  - Vorobiev, S. A.
TI  - Measurement of spectral and polarization characteristics of parametric X-rays in a Si crystal
KW  - электронный ресурс
KW  - труды учёных ТПУ
N2  - [References: p. 136 (15 tit.)]
UR  - http://dx.doi.org/10.1016/0168-583X(89)90417-5
ER  -