TY  - ELEC
AU  - Grigoriev, D.
AU  - Lazarev, S. V.
AU  - Schroth, Ph.
AU  - Minkevich, A.
AU  - Kohl, M.
AU  - Slobodskyy, T. P.
AU  - Helfrich, M.
AU  - Schaadt, D. M.
AU  - Aschenbrenner, T.
AU  - Hommel, D.
AU  - Baumbach, T.
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
TI  - Asymmetric skew X-ray diffraction at fixed incidence angle: application to semiconductor nano-objects
KW  - электронный ресурс
KW  - труды учёных ТПУ
KW  - асимметрия
KW  - наклоны
KW  - рентгенофазовый анализ
KW  - рентгеновская дифракция
KW  - угол падения
KW  - полупроводниковые наноматериалы
UR  - https://doi.org/10.1107/S1600576716006385
ER  -