TY  - ELEC
AU  - Ozdiev, A. H.
AU  - Kryuchkov, Yu.Yu.
AU  - Hans-Michael Kroning
ED  - ÐÐ°ÑÐ¸Ð¾Ð½Ð°Ð»ÑÐ½ÑÐ¹ Ð¸ÑÑÐ»ÐµÐ´Ð¾Ð²Ð°ÑÐµÐ»ÑÑÐºÐ¸Ð¹ Ð¢Ð¾Ð¼ÑÐºÐ¸Ð¹ Ð¿Ð¾Ð»Ð¸ÑÐµÑÐ½Ð¸ÑÐµÑÐºÐ¸Ð¹ ÑÐ½Ð¸Ð²ÐµÑÑÐ¸ÑÐµÑ (Ð¢ÐÐ£)
TI  - Non-destructive X-Ray testing of complex mechanisms and devices
KW  - ÑÐ»ÐµÐºÑÑÐ¾Ð½Ð½ÑÐ¹ ÑÐµÑÑÑÑ
KW  - ÑÑÑÐ´Ñ ÑÑÑÐ½ÑÑ Ð¢ÐÐ£
KW  - Ð½ÐµÑÐ°Ð·ÑÑÑÐ°ÑÑÐ¸Ð¹ ÐºÐ¾Ð½ÑÑÐ¾Ð»Ñ
KW  - ÑÐµÐ½ÑÐ³ÐµÐ½Ð¾Ð²ÑÐºÐ¸Ðµ Ð»ÑÑÐ¸
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KW  - ÑÐ»Ð¾Ð¶Ð½ÑÐµ ÑÑÑÑÐ¾Ð¹ÑÑÐ²Ð°
KW  - ÑÐµÐ½ÑÐ³ÐµÐ½Ð¾Ð²ÑÐºÐ°Ñ ÑÐ¾Ð¼Ð¾Ð³ÑÐ°ÑÐ¸Ñ
KW  - Ð´ÐµÑÐµÐºÑÑ
KW  - ÑÐ¾Ð¼Ð¾Ð³ÑÐ°ÑÐ¸ÑÐµÑÐºÐ¾Ðµ ÑÐºÐ°Ð½Ð¸ÑÐ¾Ð²Ð°Ð½Ð¸Ðµ
KW  - ÐºÐ¾ÑÐ¼Ð¸ÑÐµÑÐºÐ¸Ðµ ÑÐ¸ÑÑÐµÐ¼Ñ
KW  - ÑÐµÑÐ½Ð¾Ð»Ð¾Ð³Ð¸ÑÐµÑÐºÐ¸Ðµ Ð¿ÑÐ¾ÑÐµÑÑÑ
N2  - [References: 3 tit.]
UR  - http://dx.doi.org/10.1051/matecconf/201710201029
UR  - http://earchive.tpu.ru/handle/11683/37976
ER  -