TY  - ELEC
AU  - Sheremet, E. S.
AU  - Kim, L. R.
AU  - Stepanishcheva, D. I.
AU  - Kolchuzhin, V. A.
AU  - Milekhin, A. G.
AU  - Zahn, D. R. T.
AU  - Rodriguez (Rodriges) Contreras, R. D.
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
TI  - Localized surface curvature artifacts in tip-enhanced nanospectroscopy imaging
KW  - электронный ресурс
KW  - труды учёных ТПУ
KW  - imaging artifacts
KW  - plasmonics
KW  - nanospectroscopy
KW  - scanning probe microscopy
KW  - плазмоника
KW  - зондовые методы
KW  - микроскопия
N2  - [References: 43 tit.]
UR  - https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112811
ER  -