TY  - ELEC
AU  - Chulkov, A. O.
AU  - Sommier, A.
AU  - Pradere, C.
AU  - Vavilov, V. P.
AU  - Siddiqui, A.
AU  - Prasad, Y. L.V.D.
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
TI  - Analyzing efficiency of optical and THz infrared thermography in nondestructive testing of GFRPs by using the Tanimoto criterion
KW  - электронный ресурс
KW  - труды учёных ТПУ
KW  - infrared thermography
KW  - Terahertz imaging
KW  - Tanimoto criterion
KW  - nondestructive testing
KW  - инфракрасная термография
KW  - терагерцовая визуализация
KW  - критерий Танимото
KW  - неразрушающий контроль
N2  - [References: 35 tit.]
UR  - https://doi.org/10.1016/j.ndteint.2020.102383
ER  -