TY  - ELEC
AU  - Makarov, S.
AU  - Pikuz, S.
AU  - Ryazantsev, S.
AU  - Pikuz, T.
AU  - Buzmakov, A.
AU  - Rose, M.
AU  - Lazarev, S. V.
AU  - Senkbeil, T.
AU  - Von Gundlach, A.
AU  - Stuhr, S.
AU  - Rumancev, C.
AU  - Dzhigaev, D.
AU  - Skopintsev, P.
AU  - Zaluzhnyy, I.
AU  - Viefhaus, J.
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
TI  - Soft X-ray diffraction patterns measured by a LiF detector with sub-micrometre resolution and an ultimate dynamic range
KW  - электронный ресурс
KW  - труды учёных ТПУ
KW  - diffraction patterns
KW  - LiF detectors
KW  - color centers
KW  - дифракционные картины
KW  - центры окраски
KW  - детекторы LiF
KW  - рентгеновское излучение
KW  - лазеры
KW  - X-Ray
KW  - lasers
UR  - https://doi.org/10.1107/S1600577520002192
ER  -