TY  - ELEC
AU  - Moskovchenko, A. I.
AU  - Svantner, M.
AU  - Vavilov, V. P.
AU  - Chulkov, A. O.
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
TI  - Characterizing Depth of Defects with Low Size/Depth Aspect Ratio and Low Thermal Reflection by Using Pulsed IR Thermography
KW  - электронный ресурс
KW  - труды учёных ТПУ
KW  - pulse thermography
KW  - defect aspect ratio
KW  - thermal reflection coefficient
KW  - thermal NDT
KW  - defect characterization
KW  - non-linear fitting
KW  - thermographic signal reconstruction
KW  - термография
KW  - неразрушающий контроль
KW  - дефекты
N2  - [References: 35 tit.]
UR  - http://earchive.tpu.ru/handle/11683/68961
UR  - https://doi.org/10.3390/ma14081886
ER  -