TY  - ELEC
AU  - Moskovchenko, A. I.
AU  - Svantner, M.
AU  - Vavilov, V. P.
AU  - Chulkov, A. O.
ED  - Национальный исследовательский Томский политехнический университет
TI  - Analyzing probability of detection as a function of defect size and depth in pulsed IR thermography
KW  - электронный ресурс
KW  - труды учёных ТПУ
KW  - probability of detection
KW  - infrared thermography
KW  - detectability
KW  - defect depth
KW  - инфракрасная термография
KW  - обнаружение
N2  - [References: 36 tit.]
UR  - https://doi.org/10.1016/j.ndteint.2022.102673
ER  -