Найдено 90 результатов.

Сортировать
Результаты
81.
82.
Influence of the Substrate Roughness on the Accuracy of Measuring the Impurity Depth Distribution by Secondary-Ion Mass Spectrometry / A. S. Ghyngazov, A. P. Surzhikov, S. A. Gyngazov (Ghyngazov)Уровень набора: Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron TechniquesДоступность: :

83.
Electrical Properties of Aluminum Oxide Ceramics Film on a Metal / I. Yu. Bakeev, Yu. A. Burachevsky, E. S. Dvilis [et al.]Уровень набора: Inorganic Materials: Applied ResearchДоступность: :

84.
85.
86.
87.
88.
Machine learning-driven synthesis of TiZrNbHfTaC5 high-entropy carbide / A. Ya. Pak, V. Sotskov, A. A. Gumovskaya [et al.]Уровень набора: npj Computational MaterialsДоступность: :

89.
90.
Electron Beam-Assisted Synthesis of YAG:Ce Ceramics / Zh. Karipbaev, V. M. Lisitsyn, M. G. Golkovsky [et al.]Уровень набора: MaterialsДоступность: :