Найдено 5 записей

Результаты
	1.	Guide to Biometrics : with 131 Illustrations / R. M. Bolle [и др.]Публикация: : Springer-Verlag, 2004Описание: 364 p. : il.Доступность: Экземпляры, доступные для выдачи: НТБ ТПУРасстановочный шифр: 57 G94 (1). Заказать Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	2.	Evaluation of microstructural parameters of oxide dispersion strengthened steels from X-ray diffraction profiles / S. Vlasenko [et al.]Уровень набора: Journal of Nuclear MaterialsДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	3.	Size effect in AlN/SiN multilayered films irradiated with helium and argon ions / V. V. Uglov [et al.]Уровень набора: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and AtomsДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	4.	Microstructure Characterization of Multilayer Thin Coatings ZrN/Si3N4 by X-Ray Diffraction Using Noncoplanar Measurement Geometry / S. Vlasenko, A. I. Benediktovitch, A. P. Ulyanenkov [et al.]Уровень набора: Physica Status Solidi AДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	5.	Swift heavy ion induced phase transformations in partially stabilized ZrO2 / S. A. Gyngazov (Ghyngazov), V. A. Boltueva, J. H. O'Connell [et al.]Уровень набора: Radiation Physics and ChemistryДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)