Найдено 2 результатов.

Результаты
	1.	Features of microstructure of ZrN, Si3N4 and ZrN/SiNx nanoscale films irradiated by Xe ions / V. V. Uglov [et al.]Уровень набора: VacuumДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	2.	Tolerance of Multilayered Systems MeN/Si[3] N[4] (Me=Cr, Zr, Al) to Radiation Erosion / V. V. Uglov, G. Abadias, S. V. Zlotski [et al.]Доступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)

Уточните Ваш поиск