Найдено 3 результатов.

Результаты
	1.	Stress imaging in structural challenging MEMS with high sensitivity using micro-Raman spectroscopy / P. Meszmer [et al.]Уровень набора: Microelectronics ReliabilityДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	2.	Advanced Characterization Methods for Electrical and Sensoric Components and Devices at the Micro and Nano Scales / E. S. Sheremet, P. Meszmer, T. Blaudeck [et al.]Уровень набора: Physica Status Solidi A, JournalДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	3.	Ion-Induced Defects in Graphite: A Combined Kelvin Probe and Raman Microscopy Investigation / R. D. Rodriguez (Rodriges) Contreras, Z. Khan, Ma Bing [et al.]Уровень набора: Physica Status Solidi A, JournalДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)

Уточните Ваш поиск