Assessment of quartz materials crystallinity by x-ray diffraction / M. V. Korovkin[et al.]
Уровень набора: (RuTPU)RU\TPU\network\2008, IOP Conference Series: Materials Science and EngineeringЯзык: английский.Резюме или реферат: The estimated degree of crystallinity of natural and synthetic grown quartz and quartzite by calculating the x-ray diffraction patterns. It is shown that the index of crystallinity of natural quartzite varies widely, reflecting the different degree of their transformation. The highest values of the index of crystallinity are characterized natural and synthetic single crystals of quartz..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 10 tit.].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | кварцевые материалы | кристалличность | рентгеновская дифракция | кварц | кварциты | монокристаллы Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн | Щелкните здесь для доступа в онлайнНет реальных экземпляров для этой записи
Title screen
[References: 10 tit.]
The estimated degree of crystallinity of natural and synthetic grown quartz and quartzite by calculating the x-ray diffraction patterns. It is shown that the index of crystallinity of natural quartzite varies widely, reflecting the different degree of their transformation. The highest values of the index of crystallinity are characterized natural and synthetic single crystals of quartz.
Для данного заглавия нет комментариев.
Личный кабинет оставить комментарий.